物理实验专用集成电路芯片（ASIC）研究平台          负责人：赵雷          地点：物质楼C1308

用于对ASIC进行准确系统的测试和评估。硬件部件主要由程控衰减器及高精度示波器、半导体参数测试仪组成，通过实验室自主设计的自动化测试控制软件对硬件仪器部件进行控制。

主要设备及性能指标：

• 高精度示波器：分辨12位，采样率10 Gsps，模拟带宽1 GHz。

• 宽带高精度程控衰减：衰减范围0~139dB，可程控，带宽：DC~6 GHz。

• 高精度信号合成：2.5 Gsps采样率，14位垂直分辨，带宽330 MHz。

• 半导体参数测试仪：多项半导体参数进行测试。

    已完成LHAASO WCDA前端读出PASC ASIC（600片）、低噪声CCD控制器ASIC等项目研制。