继2006年9月BES－III飞行时间读出电子学系统样机通过阶段验收后，BES III大科学工程指挥部于2007年1月25日～2月6日，邀请有关专家在北京高能所召开了“BES－III飞行时间读出电子学系统样机”整体的鉴定会。样机系统由四块“TOF_FEE插件”、一个“快控制插件”及前置放大器、18米电缆等部分组成，时间分辨指标为25ps，是目前国际高能物理实验的最高水平。该系统由近代物理系“核探测技术与核电子学”联合实验室的安琪教授、刘树彬副教授负责研制。
1月25日～2月5日，项目组在高能所搭建测试系统，会同鉴定会的测试组成员全程测试了该实验室提供的样机，对研制要求的时间测量分辨率、电荷测量线性/精度、串扰性能、温度稳定性、长时间稳定性等性能指标，进行了详细的测试，并将样机与实际BES III所用的闪烁体、光电倍增管、前置放大器连接进行了宇宙线测试。
2月6日，鉴定组听取了项目的设计报告、测试报告和用户报告。鉴定会全体专家经过充分的认证和讨论，认为：“该项目主要性能指标，特别是时间通道的性能指标，已经达到或优于工程设计要求；电荷校准电路和温度补偿电路设计合理，措施得当，增强了电路性能，特别是有助于提高电荷积分非线性和长期稳定性；系统逻辑功能正常，数据准确可靠；同意组织实施批量投产。”
鉴定组认为， “TOF电子学系统技术指标高、设计难度大。在研制过程中采用了许多新技术、新方法，如全差分和实时修正技术，实现了高集成度的超高精度时间测量等创新性成果，达到了国际先进水平。”
这次鉴定，标志着BES-III TOF读出电子学系统的工作进度已经进入了工程化阶段。